HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 衝擊電壓試驗裝置 智能型直流高壓發(fā)生器 電子式多倍頻發(fā)生器產品簡介：

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設備等試品進行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗，檢驗絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質衝擊擊穿、放電等試驗中。

如此短的“快照速度”可以定格畫麵，準確測量非?？斓乃矔r變化。FLIR銻化銦製冷型熱像儀拍攝的FA-黃蜂戰(zhàn)鬥機的定格畫麵相反，非製冷型熱像儀，比如FLIRT13sc，它的像素由隨溫度產生明顯電阻變化的材料組成。而且，每一個像素的溫度都會升高或降低。其電阻隨溫度的變化而變化，並可測量其數(shù)值，同時通過校準流程映射至目標溫度?，F(xiàn)今配備的微測輻射熱計紅外熱像儀的快照速度或“時間常數(shù)”一般為8-12ms。

衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據相關的標準規(guī)範執(zhí)行全波（full）或截斷（chopped） 的閃電突波（L.I）

老化測試是產品生產中的環(huán)節(jié)，對於CAN通信設備如何進行批量的老化測試呢？本文將從成本及方案優(yōu)化兩方麵簡述測試方法。什麼是老化測試老化測試是將產品置於實際使用環(huán)境中評測其使用壽命、穩(wěn)定性等指標的一種測試方式。比如對塑膠材料製品，常使用光照老化、濕熱老化、熱風老化。對於電子設備的老化測試，除了以上材料老化測試還經常需要上電測試，以此來考驗產品的穩(wěn)定性。老化測試通常在的老化室中進行。老化室CAN通訊設備老化測試對於CAN通信設備的老化測試，主要是功能性老化測試。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產品特征

本部分主要是控製衝擊電壓發(fā)生器的操作，手動或自動完成充放電過程，真正實現(xiàn)智慧化操作。

充電控製功能

係統(tǒng)采用恒流充電。

根據試驗要求，調節(jié)充電電壓、充電時間、延時時間，能夠手動或者自動控製電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動控製方式充電時，根據設定值，自動充電並穩(wěn)定在充電電壓值上，延時3秒報警觸發(fā)。充電電壓的重複性和穩(wěn)定度很好。

動作控製

本體球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動跟蹤設定充電電壓值，也可手動控製調節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控製本體自動接地、充電極性切換、充電次數(shù)設定等功能。

手動/自動控製。

2 觸發(fā)控製

係統(tǒng)能夠手動、自動或報警觸發(fā)衝擊電壓發(fā)生器點火。觸發(fā)點火信號可以立延時

提供緊湊的體積和模塊化架構，在單個機箱中支持多達512個通道。提供寬泛的可編程驅動/檢測電壓範圍，支持傳統(tǒng)應用和當前技術應用。靈活的架構，提供每個引腳的可編程性-化靈活性，適用於應用。管理與這些數(shù)字子係統(tǒng)相關的功率要求和功耗是實現(xiàn)高可靠性的關鍵。現(xiàn)代數(shù)字子係統(tǒng)采用兩個主要組件—高性能ASIC或FPGA，提供所有數(shù)字邏輯，定時和序列控製;和單片引腳電子（PE）器件，它們與數(shù)字邏輯接口，並為UUT或被測器件提供可編程電平（）。