HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 SF6氣體回收裝置 sf6檢漏儀 30年經驗

露點	測量範圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

關於科技未來發(fā)展趨勢的10個定律，其中第九條是人工智能學家AIE實驗室的研究成果。這些規(guī)律對判斷科技未來發(fā)展趨勢從不同角度發(fā)揮著作用。從1969年互聯(lián)網誕生以來，互聯(lián)網發(fā)生了翻天覆地的變化，新的應用不斷出現(xiàn)，從早期的線路，大型計算機，電子郵件，ftp，BBS，到今天的智能，搜索引擎，社交網絡，在繁雜的互聯(lián)網現(xiàn)象背後，到底有冇有規(guī)律可循，本文列出了10個關於科技未來發(fā)展趨勢的定律和理論，其中來自的有一個，這些理論定律是否科學或者是否成立，也仍然需要得到時間的檢驗和專家的評議。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關機充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調節(jié)流量，把流量調節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其後每臺設備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設備測量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內容。從事件表我們看到，幀CAN-FD的位置在-12.479ms，也就是在內存數(shù)據(jù)的開端，已經達到了全內存。當然這種功能強大的全內存也是受一定條件約束的，我們在下麵的內容中會提到。係統(tǒng)會判斷情況新特性是基於保持原來速度，儘量拓寬範圍的思想設計出來的。這意味著，對於大數(shù)據(jù)量的，是基於一定比例的樣本點抽取後進行的(用於的數(shù)據(jù)量越少，越快)。係統(tǒng)會根據(jù)抽點的情況，與協(xié)議的特點(波特率等)比較，判斷是否存在風險(錯誤或不能的風險)。

5、測量其他設備

一臺設備測量後，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節(jié)閥。將轉接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結束

所有設備測量結束後，關閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。以雙路輸出為例，若主路帶滿載，而輔路帶額定負載10%以下，將導致輔路輸出電壓比起額定值高出較多；若主路帶額定負載10%以下，而輔路帶滿載，將導致輔路輸出電壓比額定輸出值低較多。另外，值得注意的是，若主路突然由重載變?yōu)楹茌p負載或相反，將導致輔路電壓出現(xiàn)下衝或上衝。很明顯這意味著，主路的“大動作”將可能導致輔路工作異常。模塊本身可以加更大的假負載，當然這也會增加其損耗。在選擇電源模塊設計係統(tǒng)時，特彆對於多路輸出模塊，應考慮輕負載問題。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進行測試，然後根據(jù)樣品的失效機理和模型來推算產品在正常條件下的壽命?？煽啃允菍Ξa品耐久力的測量，我們主要典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。冷熱衝擊試驗用來測試材料結構或複合材料，在瞬間下經高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料等材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應性。在研製階段可用於發(fā)現(xiàn)產品設計和工藝缺陷，在有些情況下也可用於環(huán)境應力篩選，剔除產品的早期故障。