HN1015A蓄電池充放電，活化測(cè)試儀 單體蓄電池放電測(cè)試儀 HN1016B 蓄電池電導(dǎo)內(nèi)阻測(cè)試儀試驗(yàn)方法

本儀器是針對(duì)整組蓄電池係列測(cè)試，不同規(guī)格型號(hào)對(duì)整組要求不同，具體根據(jù)儀表為準(zhǔn)。單體電池電壓為2V\12V（根據(jù)具體指標(biāo)定）的鉛酸蓄電池組進(jìn)行測(cè)試的儀器。

測(cè)試步驟介紹而我國(guó)電網(wǎng)係統(tǒng)基礎(chǔ)設(shè)施維護(hù)完善，供電可靠率達(dá)99.9%。在變電站設(shè)置監(jiān)測(cè)站點(diǎn)並通過(guò)電網(wǎng)已有通訊係統(tǒng)開(kāi)展預(yù)警係統(tǒng)通訊，具備實(shí)現(xiàn)高可靠性的有利條件。更為重要的是，智能電表的普及為電網(wǎng)地震預(yù)警係統(tǒng)服務(wù)民提供了便捷終端，能更充分發(fā)揮預(yù)警係統(tǒng)的社會(huì)價(jià)值。智能電表作為預(yù)警終端，不僅可以發(fā)出聲光報(bào)警信息，還可以實(shí)現(xiàn)預(yù)警信號(hào)與應(yīng)急操作的聯(lián)動(dòng)。，預(yù)警信號(hào)到達(dá)時(shí)，智能電表輸出的控製指令可以讓正在運(yùn)行的電梯在就近**位置自動(dòng)停靠，防止人員被困電梯內(nèi)；可以讓小區(qū)燃?xì)庾詣?dòng)切斷，防止震後火災(zāi)發(fā)生；可以讓振動(dòng)敏感的生產(chǎn)線自動(dòng)“剎車”，防止關(guān)鍵設(shè)備受損和產(chǎn)品報(bào)廢，等等。

1.4.1在線監(jiān)測(cè)測(cè)試：

步：連接單體電壓采集器。（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）

步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組兩端。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

步：插入電源，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第四步：進(jìn)入在線監(jiān)測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.1）

第五步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.2 放電測(cè)試：測(cè)徑儀采取固定安裝方式或軌道移動(dòng)安裝方式（實(shí)施時(shí)雙方協(xié)商確定）安裝在輸送線兩組托輥之間。測(cè)徑儀與控製櫃間由一根三芯電源線和一根網(wǎng)線連接，測(cè)徑儀的供、斷電由控製櫃通過(guò)電源線實(shí)現(xiàn)，測(cè)徑儀的數(shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)網(wǎng)線傳輸?shù)娇匮u櫃。LED顯示屏的電源同樣從控製櫃引入，顯示數(shù)據(jù)由控製櫃通過(guò)網(wǎng)線向顯示屏發(fā)送。棒材測(cè)徑儀工作時(shí)，圓棒前進(jìn)通過(guò)測(cè)徑儀的測(cè)量區(qū)。測(cè)徑儀同時(shí)測(cè)量圓棒的三個(gè)截麵上9條直徑線的外徑和測(cè)量截麵圓心的位置，並根據(jù)各截麵圓心的位置計(jì)算圓棒在1米範(fàn)圍內(nèi)的直線度誤差。

步：連接單體電壓采集器（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）。純負(fù)載不具此功能

步：放電開(kāi)關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源(電池組供電不用接AC220V電源，直接將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置)，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步：進(jìn)入放電參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.2）

第七步：將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置（電池組供電省略此步驟）。

第八步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。

1.4.3容量快測(cè)（選配功能）Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用於修複部分此類問(wèn)題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控製器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見(jiàn)於成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級(jí)任務(wù)中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負(fù)擔(dān)，從而提升效率。另一方麵FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn)，雖然是從另一個(gè)方向。賽靈思和Altera多年來(lái)一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上係統(tǒng)。

步：連接單體電壓采集器（詳見(jiàn)章節(jié)2.4）。

步：放電開(kāi)關(guān)，撥到分的位置(防止放電電纜反接，損壞儀器；反接告警提示)。

步：把放電線一端連到主機(jī)，另一端連到電池組兩端。（注意紅正黑負(fù)）。接反會(huì)告警提示。（詳見(jiàn)章節(jié)2.5）

第四步：把整組電壓測(cè)試線連接到電池組2端。

第五步：插入電源，主機(jī)開(kāi)機(jī)。

第六步：進(jìn)入容量快測(cè)參數(shù)設(shè)置。(詳見(jiàn)章節(jié)3.3）

第七步：將放電開(kāi)關(guān)撥到合的位置。

第八步：“確定”開(kāi)始測(cè)試。環(huán)境試驗(yàn)一般隻對(duì)小部分產(chǎn)品進(jìn)行，常見(jiàn)的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下：溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)用以檢查高溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。它包括高溫負(fù)荷試驗(yàn)和高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。低溫試驗(yàn)用以檢查低溫環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性。單體蓄電池放電測(cè)試儀 HN1016B 蓄電池電導(dǎo)內(nèi)阻測(cè)試儀試驗(yàn)方法