HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 青島華能生產多路配電箱溫升試驗設備 價格實惠 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。otdr的測量原理光脈衝發(fā)生器產生的脈衝驅動半導體激光器而發(fā)出的測試光脈衝進入光纖沿途返回到入射端的光。就其物理原因包括兩種：一種是由於光纖折射率的不匹配或不連續(xù)性而產生的菲涅爾反射；另一種是由於光纖芯折射率，微觀的不均勻而引起的瑞利散射。瑞利散射光的強弱與通過該處的光功率成正比。而菲涅爾反射又與光纖的衰耗有直接關係，其強弱也就反映了光纖各點的衰耗大小。由於散射是向四麵八方的，因此這些反射光總有一部分傳輸到輸入端。

1.2 技術參數要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數：三相  多路

X射線光譜儀的好壞常常是以X射線強度測量的理論統(tǒng)計誤差來表示的，BX係列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現性，已足以保證待測樣品測量的精度，被樣品的製樣技術成為影響準確度的至關重要的因素，在樣品製備方麵所花的工夫將會反映在結果的質量上。X射線熒光儀器誤差的來源主要有以下幾個方麵：1.采樣誤差：非均質材料樣品的代表性2.樣品的製備：製樣技術的穩(wěn)定性產生均勻樣品的技術3.不適當的標樣：待測樣品是否在標樣的組成範圍內標樣元素測定值的準確度標樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計數的統(tǒng)計誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現性5.不適當的定量數學模型：不正確的算法元素間的乾擾效應未經校正顆粒效應純物質的熒光強度隨顆粒的減小而增大，在多元素體係中，已經證明一些元素的強度與吸收和增應有關，這些效應可以引起某些元素的強度增加和另一些元素的強度減小。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗過程記錄功能（持續(xù)記錄輸出電壓、輸出電流相關數據）

具備試驗結果自動計算功能

具備傳輸後編輯報告生成功能

具備全自動測試與手動測試兩種方法，全自動測試時隻需簡單設置試驗電流、時間、記錄步長即可，帶自動穩(wěn)流係統(tǒng)。係統(tǒng)跟蹤目標電流，自動調整、平衡三相輸出電壓、電流，並可自動記錄電流、電壓數據，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）