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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修
sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

如電源設(shè)定輸出為3.3V/1A,假設(shè)輸出線的電阻是.3歐,就會(huì)在導(dǎo)線上形成.3V壓降,那么實(shí)際到達(dá)負(fù)載的電壓變?yōu)?.V,這可以導(dǎo)致負(fù)載不能正常工作。所以需要對(duì)導(dǎo)線壓降進(jìn)行補(bǔ)償,在此,對(duì)于應(yīng)用了全天科技可編程直流電源的用戶(hù)就可以不用擔(dān)心了,因?yàn)槿炜删幊屉娫淳哂羞h(yuǎn)端補(bǔ)償功能,遠(yuǎn)端補(bǔ)償線由電源輸出端連接到負(fù)載,由于遠(yuǎn)端補(bǔ)償是連接到電源內(nèi)的高阻抗測(cè)量電路,遠(yuǎn)端補(bǔ)償線上的的電流很小,因而產(chǎn)生的壓降可忽略不計(jì)。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。PCI支持5V及3.3V的通信環(huán)境,以反射波作為通信基礎(chǔ)。當(dāng)入射信號(hào)從無(wú)終端方向反射回來(lái)之后,反射波經(jīng)過(guò)結(jié)構(gòu)性干擾與入射波合成一體,完成電壓與電流的驅(qū)動(dòng)任務(wù),因此PCI又稱(chēng)“非終端式傳輸總線。概括起來(lái),PCI總線有如下主要特點(diǎn):在讀寫(xiě)傳送中可實(shí)現(xiàn)突發(fā)傳送。并行總線操作PCI是一種高性能32/64b地址數(shù)據(jù)復(fù)用總線,他在高度集成的外圍控制器件、外圍插件板和處理器/存儲(chǔ)器之間作為互連機(jī)構(gòu)應(yīng)用。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出,從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入,從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時(shí)鐘信號(hào),由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號(hào),有主設(shè)備控制;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點(diǎn)是傳輸數(shù)據(jù)快,能達(dá)到幾兆到幾十兆,并且沒(méi)有系統(tǒng)開(kāi)銷(xiāo)。SPI總線的缺點(diǎn)也比較明顯,主要是沒(méi)有的流控制,也沒(méi)有應(yīng)答機(jī)制確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類(lèi)的SPI通訊接口方式。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。另外,TEMCELL的高度也不夠,這也是TEMCELL不能進(jìn)行定量測(cè)試的一個(gè)原因。根據(jù)天線輻射的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試,對(duì)于EGSM/DCS頻段的天線,被測(cè)與天線的距離至少大于1米;我們可以看幾乎所有的2D暗室都是遠(yuǎn)大于這個(gè)距離。而TEMCELL比這個(gè)距離小一些,所以這也是TEMCELL相對(duì)于微波暗室來(lái)講測(cè)量不準(zhǔn)的一個(gè)原因。所以,TEMCELL只能對(duì)天線做定性的而不能做定量的。在實(shí)驗(yàn)室可以定性幾種樣機(jī)的差異,比較其性能的優(yōu)劣,但不能作為準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)值來(lái)衡量天線的性能,只能通過(guò)與其他的“金雞'(Goldensample)對(duì)比,大致來(lái)判斷天線的性能。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 快速傅里葉變換(fastFouriertransform)簡(jiǎn)稱(chēng)FFT,是利用計(jì)算機(jī)計(jì)算離散傅里葉變換(DFT)的、快速計(jì)算方法的統(tǒng)稱(chēng)??焖俑道锶~變換是1965年由J.W.庫(kù)利和T.W.圖基提出的。采用這種算法能使計(jì)算機(jī)計(jì)算離散傅里葉變換所需要的乘法次數(shù)大為減少,特別是被變換的抽樣點(diǎn)數(shù)N越多,F(xiàn)FT算法計(jì)算量的節(jié)省就越顯著。一直以來(lái),我們接受的教育就是要用FFT來(lái)進(jìn)行頻域信號(hào)的測(cè)試與。工作以后我們利用示波器上的FFT功能進(jìn)行頻域信號(hào)測(cè)試。sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修


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