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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

國(guó)內(nèi)車禍7%以上在于新手未經(jīng)有效技能培訓(xùn)及理論學(xué)習(xí),智能化駕考則從源頭上消除人為因素對(duì)結(jié)果的影響,保證公平、公正及可追溯性,進(jìn)而減少交通事故。今天就了解一下智能駕考終端是怎樣設(shè)計(jì)的。隨著國(guó)內(nèi)汽車保有量不斷攀升,更嚴(yán)格的駕照新規(guī)正在醞釀(科目五,雖然當(dāng)前只是傳言)。據(jù)統(tǒng)計(jì),國(guó)內(nèi)車禍7%以上在于新手未經(jīng)有效技能培訓(xùn)及理論學(xué)習(xí),駕考嚴(yán)格化也在情理之中。駕考嚴(yán)格化的有效實(shí)施大致在21年前后,智能化駕考推廣普及。sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。像ResearchIR一樣,F(xiàn)LIRResearchStudio?允許您定制工作區(qū),但是以一種全新的方式進(jìn)行。我們可以選擇一個(gè)布局,此布局可以只有一個(gè)窗格或多達(dá)4個(gè)不同的窗格,然后我們可以將實(shí)時(shí)碼流從任何連接的攝像機(jī)和任何記錄文件移動(dòng)到這些不同的窗格中。我們甚至可以將多個(gè)相同類型的內(nèi)容放在同一個(gè)窗格中,從而在窗格中添加了深度。當(dāng)我們添加越來(lái)越多的圖片、錄像、實(shí)時(shí)碼流和圖標(biāo),有一個(gè)布局助手,幫助您選擇在哪里放置一切。sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

當(dāng)被測(cè)表面粗糙度值大于Ra=0.8μm時(shí),隨著粗糙度值的增大,被測(cè)表面對(duì)壓頭的抗力愈小,其塑性變形愈大,圓形壓痕就愈大,相應(yīng)的硬度值也就愈小,致使測(cè)量值偏低于其真實(shí)值。試驗(yàn)證明,測(cè)量偏差在10HB以上(注:用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量洛氏硬度時(shí),粗糙度的影響較小,本文就不進(jìn)行了)。當(dāng)我們用便攜式微電腦超聲硬度計(jì)測(cè)量硬度時(shí),粗糙度的影響較用臺(tái)式硬度計(jì)就更大了。當(dāng)被測(cè)表面粗糙度值大于Ra=0.8μm時(shí),隨著粗糙度值的增大,硬度計(jì)的金剛石角錐體壓頭與被測(cè)表面的接觸面積就會(huì)增大。sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。寬帶射頻微波放大器是射頻硬件電路中不可缺少器件,放大器的性能參數(shù)如增益、1dB壓縮點(diǎn)、3dB交調(diào)等常規(guī)參數(shù)被工程師所熟知,隨著技術(shù)的發(fā)展,放大器1dB壓縮點(diǎn)越來(lái)越高,如1dB壓縮點(diǎn)放大器達(dá)到3dBm,那測(cè)試放大器壓縮點(diǎn)就需要更寬的頻段和更高的輸入激勵(lì)功率。中電儀器研制的1465系列微波信號(hào)發(fā)生器((H6選件)可對(duì)放大器增益、1dB壓縮點(diǎn)進(jìn)行準(zhǔn)確參數(shù)測(cè)試。系列微波信號(hào)發(fā)生器(1W大功率選件)大功率輸出(典型值1W),從1MHz~2GHz具有優(yōu)異的功率準(zhǔn)確度和.1dB功率分辨率。sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 顯然,更高的集成度在不影響性能的同時(shí),可以降低器件尺寸、功耗以及雷達(dá)芯片的成本。,NXP(恩智浦)便率先將MCU集成進(jìn)入了其RFCMOS中。TI更進(jìn)了一步,將DSP也集成到了同一顆芯片中。Malquin表示,DSP的集成非常關(guān)鍵,它通過(guò)改善功耗使器件尺寸降低了近6%。此外,DSP是目標(biāo)探測(cè)和分類信號(hào)處理鏈的核心。確實(shí),Wasson舉例稱TI毫米波傳感器通過(guò)內(nèi)置的DSP,實(shí)現(xiàn)了物體跟蹤和分類,以及人數(shù)統(tǒng)計(jì)。sf6露點(diǎn)儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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