HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置 直流開(kāi)關(guān)脫口試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定制定做
利用計(jì)算機(jī)控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計(jì)的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開(kāi)關(guān)的檢測(cè)試驗(yàn)，如直流開(kāi)關(guān)大電流脫扣定值的校驗(yàn)、分流器及隔離放大器特性測(cè)試、開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間測(cè)試等，并自動(dòng)記錄測(cè)試的有關(guān)數(shù)據(jù)。下面針對(duì)某高鐵通訊問(wèn)題進(jìn)行簡(jiǎn)要的實(shí)例講解?？偩€延遲產(chǎn)生原因CAN總線主要制約其傳輸距離，由于高鐵列車(chē)的車(chē)身較長(zhǎng)通訊點(diǎn)較多，就會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸和響應(yīng)的延遲。導(dǎo)線在傳輸數(shù)據(jù)時(shí)是存在延遲的，一般通常延遲為5ns/m，同時(shí)隔離器件的不同也會(huì)導(dǎo)致不同的延遲。其中還與導(dǎo)線材質(zhì)（鍍金的0.2平方米相當(dāng)于1.0平方米的銅線）、CAN與隔離方式有關(guān)，：光耦隔離延遲要比磁耦隔離大得多。如果CAN的重同步不能彌補(bǔ)傳輸中所產(chǎn)生的延遲，就會(huì)導(dǎo)致應(yīng)答定界符的位寬變大，終導(dǎo)致應(yīng)答定界符在識(shí)別過(guò)程中識(shí)別出錯(cuò)，將隱性電平識(shí)別為顯性電平，出現(xiàn)定界符錯(cuò)誤。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于對(duì)地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開(kāi)關(guān)及其隔離放大器、保護(hù)裝置進(jìn)行功能試驗(yàn)的設(shè)備，通過(guò)模擬輸出故障電流或過(guò)負(fù)荷電流，測(cè)試直流開(kāi)關(guān)的大電流脫扣特性或過(guò)熱跳閘特性及延時(shí)特性，測(cè)試隔離放大器特性和保護(hù)裝置特性。對(duì)采用上升沿時(shí)鐘的D觸發(fā)裝置來(lái)說(shuō)，輸出信號(hào)穩(wěn)定時(shí)間在時(shí)鐘下降沿周?chē)?。由于同步電路的時(shí)鐘周期可能并不是固定的，因此狀態(tài)采集之間的時(shí)間可能并不均勻，這一點(diǎn)是它與定時(shí)采集的不同點(diǎn)。邏輯儀同時(shí)提供了定時(shí)采集功能和狀態(tài)采集功能?；旌闲盘?hào)示波器數(shù)字通道采集信號(hào)的方式與邏輯儀在定時(shí)采集模式下采集信號(hào)的方式類(lèi)似，如所示。泰克MSO系列把定時(shí)采集成時(shí)鐘輸入總線顯示畫(huà)面和事件表，其與邏輯儀的狀態(tài)采集顯示畫(huà)面類(lèi)似，在調(diào)試過(guò)程中為您提供重要信息。

特點(diǎn)：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置由嵌入式微機(jī)系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過(guò)人機(jī)界面準(zhǔn)確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計(jì)算、顯示直流開(kāi)關(guān)的動(dòng)作時(shí)間，并能存儲(chǔ)、打印測(cè)量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗(yàn)裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時(shí)間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準(zhǔn)確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。先測(cè)試出可控硅的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測(cè)試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測(cè)試后，逐漸升壓，觀測(cè)漏電流，當(dāng)數(shù)值超過(guò)其額定峰值電壓后，可控硅被擊穿，但采用此方法可能會(huì)破壞其PN結(jié)，并且只能測(cè)試其是否導(dǎo)通，而不能測(cè)試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測(cè)試。搖表測(cè)試法用搖表對(duì)可控硅進(jìn)行測(cè)量，參照之前使用的漏電檢測(cè)法。為防止搖表法測(cè)試過(guò)程中擊穿或損壞可控硅，改變搖表操作方法，即要對(duì)搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制，兩筆端鏈接K極對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。

測(cè)量及計(jì)時(shí)精度高：輸出電流、開(kāi)關(guān)接點(diǎn)動(dòng)作狀態(tài)通過(guò)測(cè)量回路測(cè)量并以圖形方式在顯示器上顯示，準(zhǔn)確計(jì)算有關(guān)參數(shù)，電流測(cè)量精度為2%，時(shí)間測(cè)量精度為1mS

保護(hù)電路完善：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置有完善的保護(hù)電路,如過(guò)流速斷保護(hù)、過(guò)流超時(shí)保護(hù)等。

接線方便：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置通過(guò)隨裝置提供的電纜與被試開(kāi)關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計(jì)：HNDL20KA型直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置采用模塊化設(shè)計(jì)，特別是2號(hào)柜的降壓整流輸出單元，每一個(gè)模塊的輸出電流為5000A，方便維護(hù)和使用。根據(jù)用戶(hù)需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）不過(guò)當(dāng)我們?cè)陂_(kāi)始敲敲打打動(dòng)手之前，如果能夠簡(jiǎn)單預(yù)覽一下室內(nèi)的格局和布置，那是不是就顯得更穩(wěn)妥了呢？現(xiàn)在一款智能測(cè)量?jī)x就可以通過(guò)增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)的方式幫助我們實(shí)現(xiàn)這個(gè)目的。智能測(cè)量?jī)x可以讓我們將現(xiàn)實(shí)世界中拍攝的照片、物體之間測(cè)量的距離以及尺寸直接變成可視化的設(shè)計(jì)圖，并且能夠在智能App中進(jìn)行編輯和預(yù)覽。然后App可以將我們所有的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為數(shù)據(jù)點(diǎn)，我們可以根據(jù)整體的輪廓進(jìn)行重新規(guī)劃和布置，防止出現(xiàn)計(jì)算錯(cuò)誤、規(guī)劃和計(jì)算失誤的問(wèn)題。