HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定制 交流溫升試驗系統(tǒng) 廠家直供

又稱：大電流溫升試驗設備，大電流溫升試驗系統(tǒng)，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用于母線槽，開關，開關柜和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內(nèi)置高配置工控機，采用可編程控制器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進行實時掃描,實現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控制，并設計設置管理，只有獲得相應操作權限的人員，才能進行某些功能的操作。拉曼散射是由光纖中非傳播的局域密度不均勻和成分不均勻所致，這種不均勻性是在拉纖階段，化硅由熔融態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)槟虘B(tài)的過程中形成的。激光脈沖在光纖中所走過的路程為：2L=vt。其中，t為入射光經(jīng)后向散射返回到光纖入射端所需時間;v為光在光纖中的傳播速度，v=c/n，c為真空中的光速，n為光纖的折射率;L為光纖某處到光纖入射端的距離。在t時刻測量距光纖入射端距離為L處局域的后向拉曼散射光，OTDR為分布式測量提供可靠的理論依據(jù)。

2）進口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術的智能型傳感器，實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界面清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設備，全自動控制，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，只需設置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng)，配有4個USB口，輕松U盤、打印機等多種設備。并以通過鼠標接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與后臺計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打?。灰坏┦占綌?shù)據(jù)，就可以對其進行并用于未來的火山爆發(fā)?！笆褂檬殖质綗嵯駜x進行測量有很多優(yōu)勢，”夏威夷大學希洛校區(qū)地質(zhì)系主任SteveLundblad表示：“USGS的科學家在進入一些潛在危險地區(qū)時，必須對危險格外警惕。借助便攜式熱像儀，可以輕松即時獲得事件發(fā)展和變化的實時數(shù)據(jù)。而使用其他方法測量溫度可能需要額外的時間來安裝和回收設備?！北热鐭狁詈掀?，該設備必須被確實放置于地面，測量完成后再拆除回收。

4）只需設置好目標電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設定測試、電流和步長，省去手動調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結束后把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護功能。交流調(diào)壓裝置保護應采用微機自動保護控制和機械微動限位開關雙重保護，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

如何判別單、雙向可控硅？先任測兩個極，若正、反測指針均不動（萬用表選電阻R*1Ω擋），可能是K或A極（對單向可控硅）也可能是TT1或TG極（對雙向可控硅）。若其中有一次測量指示為幾十至幾百歐，則必為單向可控硅。且紅筆所接為K極，黑筆接的為G極，剩下即為A極。若正、反向測批示均為幾十至幾百歐，則必為雙向可控硅。再將旋鈕撥至R×1或R×10擋復測，其中必有一次阻值稍大，則稍大的一次紅筆接的為G極，黑筆所接為T1極，余下是T2極。

主要技術指標：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉(zhuǎn)換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準度：0.5
	穩(wěn)流準度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定制 交流溫升試驗系統(tǒng) 廠家直供按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風險，甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限制？詳細的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當我們在圖片上的點進行測試的時候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關電源上有相當大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當我們將示波器設置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關電源紋波測量，而應該是噪聲。