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產品詳情
  • 產品名稱:冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量
冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

X熒光光譜可以對固體,甚至液體、氣體中元素做快速定性定量的,對各材質的絕大多數(shù)如金屬、合金、陶瓷、玻璃、玉石珠寶甚至書畫、顏料、油畫中的元素或微量元素含量做定性識別和定量。X射線熒光光譜在考古學中主要應用在鑒定古物的年代、真?zhèn)巍a地、制作工藝等方面。X熒光光譜在考古中的應用應用一:的鑒定1)材質鑒定有些用肉眼就可以分辨是陶器還是青銅器;有些用肉眼就不好分辨,考古學家們有時為一件是什么材質爭論不休。冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量1、連接SF6設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調節(jié)流量,把流量調節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設備測量時間需要510分鐘,其后每臺設備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據

設備測量完成后,可以將數(shù)據保存在儀器中,按“確定”鍵調出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內容。同樣的輸入輸出電壓、同樣的功率、同樣的封裝,不同廠家的電源模塊,哪個性能更好?對于一個性能優(yōu)良的電源模塊來說,需要測試的項目很多,而且這些性能之間是緊密聯(lián)系的,本文挑選其中幾個方面的性能進行對比闡述。穩(wěn)定可靠穩(wěn)定可靠性是根本,如果工作時電源模塊運行穩(wěn)定可靠都不能保證,其他性能也就別提了。從設計的角度來看,需要考慮當模塊處于惡劣環(huán)境時模塊中每個器件電應力和熱應力在允許范圍內并保證留有一定裕量,且在系統(tǒng)受到一定干擾時,應保持穩(wěn)定。冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量

5、測量其他設備

一臺設備測量后,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調節(jié)閥。將轉接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結束

所有設備測量結束后,關閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。

受到兩部分鐵芯閉合程度的影響,電流鉗精度通常比互感器差。同樣地基于電磁感應的電流鉗也只能測量交流。基于霍爾效應的電流鉗在鐵芯中加工一個氣隙放置霍爾元件。利用霍爾元件測量氣隙中的磁感應強度,根據控制方式不同,有開環(huán)和閉環(huán)兩種類型。開環(huán)霍爾型使用線性度較好的霍爾元件,霍爾元件輸出電壓正比于被測電流。閉環(huán)霍爾型使用零磁通技術,鐵芯上有補償線圈。當初級有被測電流在鐵芯中產生磁通時,霍爾元件檢測鐵芯中的磁感應強度,通過負反饋將此誤差電壓轉換為電流驅動補償線圈,抵消鐵芯中的磁通,終被測電流與補償線圈產生的磁通量大小一致方向相反,通過測量補償線圈的電流即可按照匝數(shù)比換算出被測電流。冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量

1、保存數(shù)據

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據頁面,保存數(shù)據時,可以根據設備進行編號。

設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調整數(shù)據位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據。DM濾波器衰減了中頻段DM噪聲(2MHz至30MHz)近35dBμV/m。此外高頻段噪聲(30MHz至100MHz)也有所降低,但仍超過限制水平。這主要是因為DM濾波器對于高頻段CM噪聲的濾除能力有限。C5標準下的噪聲特性(帶DM濾波器)顯示了增加CM和DM濾波器后的噪聲特性。與相比,CM濾波器的增加降低了近20dBμV/m的CM噪聲。并且EMI性能也通過了CISPR25C5標準。C5標準下的噪聲特性(帶CM和DM濾波器)顯示了不同布局下帶CM和DM濾波器的噪聲特性,其中濾波器與相同。冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉到下一個修改域內。

 為了滿足傳導發(fā)射限制的要求,通常使用電磁干擾(EMI)濾波器來電子產品產生的傳導噪聲。但是怎么選擇一個現(xiàn)有的濾波器或者設計一個能滿足需要的濾波器?工程師表現(xiàn)得很盲目,只有憑借經驗作嘗試。根據經驗使用一個濾波器,如果不能滿足要求再重新修改設計或者換另一個新的濾波器。要找到一個合適的EMI濾波器就成為一個費時且高成本的任務。電子系統(tǒng)產生的干擾特性解決問題要了解電子系統(tǒng)產生的總干擾情況,需要多少干擾電壓才能滿足標準要求?共模干擾是多少,差模干擾是多少?只有明確了這些干擾特性我們才能根據實際的需要提出要求。冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質量


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