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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6純度分析儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6純度分析儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6純度儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做
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露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

100mA到1A是當(dāng)前大多數(shù)產(chǎn)品的電流范圍,特別是目前350mA(或者更確切地說,光電半導(dǎo)體結(jié)的電流密度為350mA/mm2)是熱管理和照明效率間常采納的折衷方案。控制LED驅(qū)動(dòng)器的積體電路是矽基的,所以在1.25V的范圍內(nèi)有一個(gè)典型的帶隙。要在1.25V處達(dá)到1%的容差,亦即需要±12.5mV的電壓范圍。這并不難實(shí)現(xiàn),能達(dá)到這種容差或更好容差范圍的低價(jià)電壓參考電路或電源控制IC種類繁多,價(jià)格低廉。sf6純度儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。IT51系列電池內(nèi)阻測試儀是一款高精度,高穩(wěn)定性的電池測試儀,可同時(shí)測量電池的內(nèi)阻和電壓。IT51可以把電池內(nèi)阻的測試結(jié)果進(jìn)行批量保存、統(tǒng)計(jì),并且用列表或正態(tài)分布圖顯示統(tǒng)計(jì)結(jié)果。電池生產(chǎn)企業(yè)生產(chǎn)部門和研發(fā)部門可以根據(jù)電池內(nèi)阻檢測的結(jié)果,對(duì)電池的生產(chǎn)情況加以調(diào)整,進(jìn)而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和**。近,某因?yàn)槠湫驴铍姵囟诜秶鷥?nèi)召回,使得這家科技巨頭的電池成為了各界關(guān)注的焦點(diǎn)。sf6純度儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做

5、測量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

遠(yuǎn)端無法接收到數(shù)據(jù)——地電勢差存在許多實(shí)際應(yīng)用中,通信距離可達(dá)幾千米,節(jié)點(diǎn)之間的距離很遠(yuǎn)。設(shè)計(jì)者常常直接將每個(gè)節(jié)點(diǎn)的參考地接于本地的大地,作為信號(hào)的返回地,看似正常可靠的做法,卻存在的隱患。即使調(diào)試正常的系統(tǒng),也可能在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)問題。常常被忽略的問題是:兩個(gè)節(jié)點(diǎn)之間大地也可能存在很大的電勢差。。。實(shí)際的大地并不是理想的“0”電位,大地也是導(dǎo)體,也存在阻抗。當(dāng)大的電流流過大地時(shí),流過電流的大地兩端也會(huì)存在電勢差。sf6純度儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。也就是說,壓痕接觸面積愈大,超聲硬度計(jì)的示值愈低。而非壓痕接觸大大地增加了壓頭與被測表面的接觸面積,致使硬度計(jì)示值偏低于真實(shí)值。試驗(yàn)證明,洛氏硬度測量偏差在10HRC左右;布氏硬度測量偏差在20HB左右。解決辦法:在測量試樣硬度時(shí),我們必須注意被測表面粗糙度是否符合硬度計(jì)的檢測條件。在正常使用硬度計(jì)的條件下,必須保證試樣的被測表面粗糙度值小于或等于Ra=0.8μm,若試樣的被測表面粗糙度值大于Ra=0.8μm,可以通過機(jī)械方法(上磨床)或手工方法,對(duì)被測表面進(jìn)行研磨修整,法國凱茂KIMO使試樣的被測表面粗糙度達(dá)到檢側(cè)條件。sf6純度儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 1×、10×這些名稱的由來,是因?yàn)橹暗氖静ㄆ鳑]有自動(dòng)識(shí)別衰減系數(shù)和自動(dòng)調(diào)節(jié)的能力,所以需要通過1×、10×這些名稱來提醒測試者記得要把測量出來的結(jié)果乘以相應(yīng)的倍數(shù)。帶寬帶寬也同樣是一個(gè)必備的參數(shù),指的是導(dǎo)致信號(hào)衰減-3dB情況下的頻率點(diǎn)。如下圖所示:如100MHz就有100MHz帶寬,500MHz就有500MHz帶寬。一些,還會(huì)有一個(gè)低頻的帶寬頻率,比如一些AC,不能傳遞DC信號(hào),它在低頻段會(huì)有一個(gè)帶寬參數(shù)。sf6純度儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定制定做


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