青島華能供應(yīng) 互感器校驗裝置 生產(chǎn)廠家HN10A互感器特性綜合測試儀

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等. 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.分體式空調(diào)器使用的遙控器上一般設(shè)有高、中和低三檔風(fēng)速供選擇。可依室內(nèi)的溫度要求，通過調(diào)節(jié)空調(diào)器的風(fēng)速檔來達到調(diào)節(jié)制冷或制熱的目的?？照{(diào)停機原因：空調(diào)器無論由于何種原因而停機(如突然斷電、人為停機等)，由于一般空調(diào)器均設(shè)有停機的時間延遲器(延遲時間約3min)，這時這類空調(diào)器停機后雖可馬上開機，但需過3min后才能運轉(zhuǎn)。但對無時間延遲器的空調(diào)器，停機后不能立即開機，務(wù)約3min，才能重新開啟空調(diào)器，否則可能造成啟動電流過大，燒毀熔絲，甚至燒毀壓縮機電機的后果。

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。使用CANScope測量CAN總線信號，在干擾很嚴重的情況下會出現(xiàn)CAN總線波形與CAN報文不一致的情況，具體表現(xiàn)為某些正確報文對應(yīng)的波形卻是錯誤的，或者收到的錯誤報文對應(yīng)的波形卻是正確的，如中，幀ID為0721的正確報文對應(yīng)的波形卻為CRC錯誤。本文將對這種現(xiàn)象產(chǎn)生的原因及其存在的意義進行詳細的說明。.報文與波形不一致差異錯誤的主要原因CANScope對CAN信號的處理包含2部分：報文處理部分和波形處理部分。

具體接線步驟和說明如下：

斷開電力線與CT一次側(cè)的連接，未接地的電力線較長，會給CT一次側(cè)的測量引入較大干擾，參見圖3.4。

將CT一次側(cè)一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)黑色端子將CT一次側(cè)另一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)紅色端子將CTPT儀的接地柱連接到保護地PE將按照圖3.3所示，斷開被測CT二次側(cè)和二次負荷的連接在對變比值相同的多繞組電流互感器進行CT或CT比差角差測試時，沒有測試的二次繞組應(yīng)短接，否則測試誤差將會偏大保護10P10，紅外攝像機因為無損檢測使用的紅外攝像機要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時間分辨率的高幀速率。每個像素的空間分辨率由與紅外攝像機一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測大型目標和精細區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機。2.光激發(fā)無損檢測-光學(xué)增強方法的基本原理為光激發(fā)無損檢測裝置概圖。該方法分為所示的脈沖熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈沖熱成像的基本原理脈沖熱成像方法通過瞬間燈光激發(fā)使測量對象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過程中，通過圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時間相位滯后。暫態(tài)TPY三個繞組的2000/1的CT，進行0.5級繞組的比差角差測量時應(yīng)按照圖3半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。.4.1進行接線具體接線步驟和說明如下：將CTPT儀的接地柱連接到保護地PE將按照圖3.6所示，斷開PT二次側(cè)和二次回路的連接將CTPT儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至二次負荷的一端，參見圖3.6將CTPT功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至二次負荷的另一端為了消除接觸電阻的影響，在連接CTPT儀的端子時，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)使用usb接口時，如果軟件里找不到對應(yīng)的端口，在設(shè)備管理器中更新com口的驅(qū)動程序即可。LAN:將通訊方式調(diào)為LAN口，設(shè)置IP地址，網(wǎng)關(guān)，子網(wǎng)掩碼（其中，IP地址需和連接的PC機不相同，只需要后一位不同，如電腦ip地址為192.168.4.196，那么儀器上的IP地址設(shè)置為192.168.4.xxx，網(wǎng)關(guān)和子網(wǎng)掩碼必須要一致。），其次，需要ping通儀器。打開電腦的運行，輸入cmd，進入配置菜單，輸入ipconfig按下enter之后，再次確認一下IP地址，網(wǎng)關(guān)，子網(wǎng)掩碼，接著，輸入ping儀器IP地址如ping192.168.4.1。青島華能供應(yīng) 互感器校驗裝置 生產(chǎn)廠家