HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 青島華能生產(chǎn)JP柜溫升大電流試驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家 

用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。功率調(diào)節(jié)器的功率變換效率測(cè)試、馬達(dá)的效率測(cè)試、電抗器的損失測(cè)試等，在電力電子領(lǐng)域的各個(gè)方面都被要求要有高精度的功率（電流和電壓）測(cè)試。本文，著重圍繞電流測(cè)試技術(shù)，將介紹電流傳感器和功率儀的開(kāi)發(fā)技術(shù)。關(guān)于電流的測(cè)試方式功率儀的電流測(cè)試，一般通過(guò)直接測(cè)量方式(Fig.1)和電流傳感器方式的(Fig.1)其中一種來(lái)進(jìn)行。下面,將介紹一下各自的特征。Fig.1直接測(cè)量方式和電流傳感器方式1.1直接測(cè)量方式直接測(cè)量方式,是把測(cè)試對(duì)象的測(cè)試線直接連接到功率儀的電流端子進(jìn)行測(cè)試的方式。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

ISO17025明確要求校準(zhǔn)結(jié)果要報(bào)告測(cè)量（校準(zhǔn)）不確定度，校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室或測(cè)試實(shí)驗(yàn)室做所有校準(zhǔn)測(cè)量時(shí)，應(yīng)該擁有并使用固定的程序來(lái)評(píng)估測(cè)量不確定度。實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可委員會(huì)CNAS-CL07:2011《測(cè)量不確定度的要求》，要求切實(shí)執(zhí)行ISO17025，在校準(zhǔn)結(jié)果中逐點(diǎn)正確報(bào)告校準(zhǔn)不確定度。報(bào)告不確定度就是要說(shuō)明在各項(xiàng)校準(zhǔn)工作中，實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)能力是否達(dá)到要求，保證校準(zhǔn)質(zhì)量。福祿克55XX系列校準(zhǔn)器，包括5500A，5502A,5520A,5522A等多產(chǎn)品校準(zhǔn)器，在國(guó)內(nèi)已有近兩千臺(tái)，服務(wù)于各級(jí)計(jì)量校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室以及研究機(jī)構(gòu)。

具備供電電源三相輸入電壓、輸入電流顯示功能

具備試驗(yàn)過(guò)程記錄功能（持續(xù)記錄輸出電壓、輸出電流相關(guān)數(shù)據(jù)）

具備試驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)計(jì)算功能

具備傳輸后編輯報(bào)告生成功能

具備全自動(dòng)測(cè)試與手動(dòng)測(cè)試兩種方法，全自動(dòng)測(cè)試時(shí)只需簡(jiǎn)單設(shè)置試驗(yàn)電流、時(shí)間、記錄步長(zhǎng)即可，帶自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)。系統(tǒng)跟蹤目標(biāo)電流，自動(dòng)調(diào)整、平衡三相輸出電壓、電流，并可自動(dòng)記錄電流、電壓數(shù)據(jù)，。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

青島華能生產(chǎn)JP柜溫升大電流試驗(yàn)裝置 生產(chǎn)廠家傳統(tǒng)AOI依靠對(duì)像素網(wǎng)格值進(jìn)行來(lái)確認(rèn)線路板上元件的位置，這種方法又稱為灰度相關(guān)法，它將元件灰度模型或參考圖與板上實(shí)際元件相比較，一旦選準(zhǔn)要搜索的模型，圖像處理系統(tǒng)就通過(guò)計(jì)算像素?cái)?shù)目找尋一個(gè)與之匹配的元件，如果找到了，元件的位置也就知道了。由于系統(tǒng)不斷會(huì)檢測(cè)到一些新元件，因此為適應(yīng)這些新的元件形狀參考圖形可能經(jīng)常發(fā)生變化。當(dāng)元件相對(duì)參考模型旋轉(zhuǎn)了一個(gè)角度或者大小不太一致時(shí)，像素網(wǎng)格方法就會(huì)出問(wèn)題。